Prüfung als Teil der Fertigungskette behandeln
Die ESD-Betrachtung beginnt bei der Übergabe aus SMT, THT oder WIP und endet erst mit definierter Weitergabe an Serienprozess, Rework oder Verpackung. Der Prüfplatz ist keine isolierte Insel.
| Prüfphase | Typische ESD-Frage | Schwerpunkt |
|---|---|---|
| AOI-Übergabe | Wie wird die offene Baugruppe in den Prüfprozess übergeben? | Materialfluss |
| ICT | Welche Potentiale liegen an Fixture, Pins, Prüfling und Versorgung an? | Adapter / Kontakt |
| Funktionstest | Welche externen Geräte und Schnittstellen werden verbunden? | Kabel / Versorgung / Erdung |
| Debugging | Welche temporären Messmittel verändern den freigegebenen Aufbau? | Fremdgeräte / Change |
| Fehlerausgang | Wie gelangt die Baugruppe kontrolliert zu Rework oder Quarantäne? | Schutzstatus / WIP |
Prüfling vor Kontakt auf definierten Zustand bringen
Vor Steck-, Pin- oder Fixturekontakt wird berücksichtigt, ob Baugruppe, Adapter und angeschlossene Geräte auf kompatiblen Potentialen liegen. Ein ausgeschalteter Prüfling ist nicht automatisch frei von elektrostatischem Risiko.
Fixture, Testpins und Adapter als Produktkontakt qualifizieren
Prüfadapter können leitfähige, ableitfähige und isolierende Materialien kombinieren. Kontaktpins, Niederhalter, Halterungen und Wechseladapter werden für den realen Zustand bewertet; Verschleiß oder Austausch kann eine Neubewertung auslösen.
Kabel, Schnittstellen und Versorgung kontrollieren
Stecker, Kabelschirme, externe Netzteile, Kommunikationsschnittstellen und Versorgungseinheiten werden in die Potential- und Erdungsbetrachtung einbezogen. Elektrische Schutzerdung und ESD-Potentialausgleich werden dabei fachlich getrennt behandelt.
ICT als Kontaktprozess innerhalb des Prüf-Pillars führen
Beim In-Circuit-Test entstehen viele definierte Kontakte zwischen Fixture und Baugruppe. Die ESD-Aufgabe liegt in kontrollierter Einlage, Adapterzustand, Potentialen, Entnahme und Übergabe. Dafür wird keine separate ICT-SEO-Seite erzeugt.
Funktionstest mit externen Geräten vollständig erfassen
Funktionstests verbinden Baugruppen häufig mit Netzteilen, Lasten, Kommunikationsgeräten, Messmitteln oder kundenspezifischen Adaptern. Jede neue externe Verbindung wird als Teil des freigegebenen Prüfaufbaus betrachtet.
Debugging nicht improvisieren
Oszilloskope, aktive Tastköpfe, USB-Adapter, Labornetzteile oder provisorische Kabel können den normalen Prüfaufbau verändern. Temporäre Aufbauten werden vor offener Analyse bewertet und nach Abschluss entweder dokumentiert freigegeben oder vollständig zurückgebaut.
Gutteil, Fehlerteil und unklaren Status getrennt weitergeben
Nach Prüfung wird eindeutig zwischen freigegebenem Produkt, Rework-Fall und unklarem beziehungsweise gesperrtem Status unterschieden. Behälter, WIP-Puffer und Übergabewege entsprechen dem definierten Materialfluss.
Prüfplatz und Produktvariante kontrolliert freigeben
Neue Fixtures, Kabel, externe Geräte, Produktvarianten oder geänderte Testsequenzen werden darauf geprüft, ob sie Produktkontakt, Potentiale oder Handhabung verändern. Relevante Änderungen werden in die Requalifikation übernommen.
- Prüflingsweg von Eingang bis Ausgang aufnehmen.
- alle Produktkontakte, Adapter, Kabel und Fremdgeräte erfassen.
- Potential- und Erdungszustände je Prüfphase bewerten.
- ICT-, Funktionstest- und Debug-Zustände getrennt betrachten.
- Gutteil-, Rework- und Quarantänewege definieren.
- Prüfplatz im realen Betriebszustand qualifizieren.
- Änderungen an Fixture, Gerät oder Produktvariante über Change bewerten.
Praxisfall: Debugging nach ICT-Fehler
Eine Baugruppe fällt im ICT aus und wird zum Debug-Arbeitsplatz gebracht. Der Schutz endet nicht mit dem Testfehler: Behälter, Übergabe, Oszilloskop, Labornetzteil, Tastkopf und Rückführung in ICT oder Rework werden als kontrollierte Prozesskette geführt.
Häufige Fragen zu Elektronikprüfung
Quellen und weiterführende Dokumente
Fachlich geprüft
September 2026
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